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電子組件可靠性概述
??? 電子組件可靠性的三個(gè)構(gòu)成部分出發(fā),首先分析電子組件在整個(gè)生命周期的常見(jiàn)應(yīng)力及失效表現(xiàn),并針對(duì)電子組件可靠性的三個(gè)組成部分的可靠性問(wèn)題進(jìn)行詳細(xì)分析,分別介紹了電子組件工藝質(zhì)量評(píng)估,焊點(diǎn)熱疲勞失效機(jī)理及評(píng)價(jià)方法;焊點(diǎn)過(guò)應(yīng)力失效機(jī)理及評(píng)價(jià)方法;PCB常見(jiàn)失效問(wèn)題及控制方法,電子組件電化學(xué)失效機(jī)理及評(píng)價(jià)方法;電子元器件主要失效機(jī)理及控制方法等。 課程重點(diǎn)為:
?電子組件可靠性的影響要素;
?影響電子組件可靠性的主要問(wèn)題;?高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
?電子組件常用的失效分析方法;
?電子組件常見(jiàn)可靠性問(wèn)題的試驗(yàn)評(píng)價(jià)方法; 課程目標(biāo) 了解可靠性基礎(chǔ) 掌握電子組件主要失效模式、失效機(jī)理和分析方法 掌握電子組件可靠性評(píng)價(jià)方法
課程目的及目標(biāo)
課程內(nèi)容
?電子組件可靠性概述
?電子組件失效分析方法
?焊接原理及焊接工藝評(píng)價(jià)方法
?焊點(diǎn)熱疲勞、機(jī)械過(guò)應(yīng)力等可靠性評(píng)價(jià)方法
?PCB來(lái)料質(zhì)量綜合保證技術(shù)
?電子組件絕緣可靠性試驗(yàn)及失效案例研究
?電子元器件可靠性要求及失效案例研究
**章 電子組件可靠性概述
?可靠性的定義
?電子組件可靠性特點(diǎn)及工作方法
可靠性是什么?高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
可靠性:“可靠性”描述的是產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間(t>0)內(nèi),在規(guī)定的條件下完成規(guī)定功能的能力。 三個(gè)重要方面: (1)規(guī)定的時(shí)間(泛指壽命單位) (2)規(guī)定的條件(熱、機(jī)械、化學(xué)、電磁、電化學(xué)等) (3)規(guī)定的功能(技術(shù)、性能指標(biāo)) 常見(jiàn)的可靠性舉例: 1)某手機(jī)在正常使用的條件下三年內(nèi)不出故障的概率為99.5%。 2)手機(jī)主板在1米高度,10次跌落后,不出故障的概率大于99% 3)……
1.1 可靠性定義
那可靠性是什么?
靠性是質(zhì)量的時(shí)間指標(biāo)
失效三階段:早期失效、隨機(jī)失效、耗損老化
早期失效——工藝、材料缺陷和設(shè)計(jì)裕度不足是主要因素,通過(guò) 工藝質(zhì)量控制解決、過(guò)應(yīng)力裕度設(shè)計(jì)解決。 隨機(jī)失效——誤操作、使用不當(dāng)、外界環(huán)境突變等,人為、環(huán)境 因素是主要影響因素,通過(guò)規(guī)范操作、降額使用解決。 耗損失效— 結(jié)構(gòu)磨損、材料老化是主要因素,通過(guò)固有壽命、工 藝技術(shù)設(shè)計(jì)解決。
隨時(shí)間變化的失效三階段分析
常用可靠性特征量
可靠度R(t)——產(chǎn)品在規(guī)定的條件、規(guī)定的時(shí)間t內(nèi)完成規(guī)定功能的概率,“三個(gè)規(guī)定”。高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
累積失效概率F(t)——產(chǎn)品在規(guī)定條件、規(guī)定的時(shí)間t以前的累積失效概率。
失效率λ(t)——在規(guī)定的條件、規(guī)定的t時(shí)刻,尚未失效產(chǎn)品在單位時(shí)間內(nèi)失效的概率,描述仍能工作器件失效的可能性。
平均壽命MTTF——批產(chǎn)品的壽命平均值 。
中位壽命(t0.5)——可靠度R=0.5時(shí),對(duì)應(yīng)的工作時(shí)間,產(chǎn)品一半已經(jīng)失效。
可靠壽命(tr) ——可靠度為任一值R時(shí),對(duì)應(yīng)的工作時(shí)間。
常用可靠性特征量
電子組件可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)表(總數(shù)量140)
可靠性計(jì)算示例
可靠度變化示意圖
中位 壽命高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
平均 壽命
失效率隨時(shí)間變化圖
可靠性的應(yīng)用-一個(gè)電表的故事
v 十年包換??v 能否達(dá)到?
v 如何達(dá)到??v 如何更好?
1.2 SMT電子組件可靠性特點(diǎn)
電子組件是電子產(chǎn)品的心臟
核心:電子元器件 PCB 焊點(diǎn)
8 焊料連接可靠性器件可靠性PCB可靠性焊點(diǎn)可靠性 環(huán)境條件工藝條件材料 熱機(jī)械加載動(dòng)態(tài)機(jī)械加載電化學(xué)電學(xué) 焊點(diǎn)特征 焊料合金/微結(jié)構(gòu) 焊料/焊盤(pán) 焊料 空洞錫膏的放置器件放置助焊劑焊接曲線電路板結(jié)構(gòu)器件位置焊盤(pán)/過(guò)孔支撐/機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)焊料合金/錫膏器件結(jié)構(gòu)/尺寸器件端口結(jié)構(gòu)/金屬化層電路板材料/尺寸/鍍層材料設(shè)計(jì)制造使用
電子組件的可靠性取決于器件/PCB/焊點(diǎn)的可靠性
1.2.1 電子組件可靠性概要
1.2.2 電子組件生命周期分析
電子組件生命周期分析 1 組裝焊接--熱應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力 2 測(cè)試及老化--機(jī)械、電應(yīng)力 3 儲(chǔ)存--溫度、濕度、機(jī)械 4 運(yùn)輸--機(jī)械應(yīng)力(振動(dòng)、沖擊)、溫度、濕度等 5 使用--溫度、濕度、化學(xué)、電、機(jī)械、輻射等等 不同的應(yīng)力環(huán)境可能導(dǎo)致不同的失效形式,并*終導(dǎo)致產(chǎn)品失效。 其中,焊接過(guò)程對(duì)器件、焊點(diǎn)和PCB的可靠性都有相當(dāng)大的影響。
電子組件焊接
-形成良好焊點(diǎn)的前提、并影響器件和PCB等的可靠性
形成良好焊點(diǎn)的關(guān)鍵是:在焊接界面良好潤(rùn)濕,并形成合適的金屬間化合物.
1)組裝焊接高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
測(cè)試?yán)匣昂Y選的目的:排除早期缺陷。 測(cè)試?yán)匣赡軒?lái)的問(wèn)題: 由于應(yīng)力選擇的問(wèn)題,可能對(duì)正常的樣品造成損傷,特別是對(duì)于焊點(diǎn)。 可能的應(yīng)力: 熱沖擊---焊點(diǎn)開(kāi)裂 機(jī)械振動(dòng)---焊點(diǎn)脫離 溫度/濕度---腐蝕 溫度----合金層變厚
2)測(cè)試及篩選測(cè)試:彎折試驗(yàn) 失效形式:器件脫落 原因:過(guò)應(yīng)力 設(shè)計(jì)** 測(cè)試條件不科學(xué)!
測(cè)試及篩選的影響案例
存儲(chǔ)和運(yùn)輸中,由于產(chǎn)品的運(yùn)輸條件不同,存儲(chǔ)環(huán)境不同,對(duì)電子組件可能產(chǎn)生相當(dāng)大的應(yīng)力影響,足以導(dǎo)致失效。 可能的應(yīng)力 機(jī)械振動(dòng)---焊點(diǎn)脫離 溫度/濕度---腐蝕
3)存儲(chǔ)運(yùn)輸
馬里蘭大學(xué)對(duì)計(jì)算機(jī)顯示器的運(yùn)輸應(yīng)力研究
某計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)運(yùn)輸應(yīng)力分析
機(jī)械振動(dòng)和沖擊
某計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)運(yùn)輸應(yīng)力分析
影響電子組件可靠性*大的環(huán)境條件,主要載荷包括: 溫度/濕度----腐蝕、遷移 溫度循環(huán)/溫度沖擊---焊點(diǎn)疲勞 機(jī)械振動(dòng)--焊點(diǎn)過(guò)應(yīng)力失效-疲勞失效 機(jī)械跌落--焊點(diǎn)過(guò)應(yīng)力 電應(yīng)力--電遷移 輻射等--器件損傷 器件-錫須失效
4)產(chǎn)品使用
電子組件常見(jiàn)可靠性問(wèn)題舉例
Crack
Crack
Void
1)焊點(diǎn)疲勞失效?2)電化學(xué)遷移
3)陽(yáng)極導(dǎo)電絲失效?4)腐蝕失效
5)錫須失效
電子組件可靠性問(wèn)題匯總
器件 1 錫須生長(zhǎng)和錫疫 2 器件熱穩(wěn)定性(潮濕敏感損傷) 3 前向/后向兼容性(混裝) 4 可焊性,耐腐蝕性 PCB 1 可焊性 2 熱穩(wěn)定性(變色,翹曲,孔斷) 焊點(diǎn):(疲勞,過(guò)應(yīng)力) 電化學(xué):遷移,CAF
元器件
焊點(diǎn)
電子元件與SMT焊點(diǎn)的“浴盆”曲線對(duì)比
1.2.3 電子組件失效率曲線分析
分析和選擇 元器件 焊料類型 材料 PCB設(shè)計(jì) 組裝過(guò)程熱設(shè)計(jì)考慮 測(cè)試 機(jī)械設(shè)計(jì)考慮。。。。。。
如何確定合適的參數(shù)指標(biāo)要求? (可靠性統(tǒng)計(jì)學(xué)和失效物理相結(jié)合)
PCBA的主要失效機(jī)理和失效模式高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
從設(shè)計(jì)角度考慮
電子組件失效率曲線分析
1.2.4 電子組件可靠性工作程序
電子組件可靠性工作方法
DESIGN FORRELIABILITYRELIABILITYTEST & DATAANALYSISFAILURE ANALYSIS可靠性工程可靠性設(shè)計(jì)可靠性試驗(yàn)失效分析
可靠性工作的根本 能夠大大降低成本 ………
v失效位置、模式、機(jī)理
可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)驗(yàn)證
可靠性設(shè)計(jì)驗(yàn)證
v理解失效的原因及如何提高 ?v 樣品數(shù)量
v 測(cè)試條件?? v 測(cè)試周期
v 失效獲取?? v 壽命分布
v 可靠性函數(shù)?v 失效率
v 平均壽命高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱